定制化夹具
根据客户的测试需求，定制相关夹具：
1、自定义背板/连接器，国内外分立电阻电容电感器件， 自研芯片、线缆等测试夹具
2、符合测试标准，精确测量客户待测物的真实性能
3、可根据测试场景选择TRL/ISD/AFR等多种去嵌方法，均能完全去除夹具的影响，去嵌精度:回损-40dB@67GHz，插损±0.1dB@67GHz
国产分立器件测试夹具
5G天线连接器夹具测试
去嵌精度&测试精度
去嵌方式对比
可以使用多种不同的去嵌方式实现测试产品DUT，均能保证高精度的去嵌测试
TRL校准精度
TRL去嵌精度做到50Ghz+，IL小于±0.1db，RL小于-35db。
仿测校准案例
带SMA头的仿真测试拟合
插损回损拟合
TDR阻抗拟合